检测项目
1. 波长精度校准：测量范围380-2500nm，允许偏差±0.2nm（可见光波段）
2. 光谱分辨率验证：全波段半峰宽≤1.5nm（FWHM@546.1nm汞灯谱线）
3. 透射率测定：测量精度±0.5%（波长重复性误差≤0.1nm）
4. 色散特性分析：角色散率≥2.5nm/mm（435.8nm波长处）
5. 杂散光抑制测试：杂散光强度≤0.01%（在632.8nm处测量）
检测范围
1. 光学玻璃材料：包括BK7、Fused Silica等基底材料的折射率温度系数测定
2. 晶体光学元件：LiNbO3、CaF2等晶体的双折射特性分析
3. 镀膜光学器件：AR膜、分光膜的透射/反射光谱曲线测量
4. 激光系统组件：激光晶体（Nd:YAG）、倍频器件的相位匹配角标定
5. 荧光材料表征：量子点、稀土掺杂材料的发射光谱半宽测定
检测方法
ASTM E275-08(2017)：分光光度法描述与性能验证标准规程
ISO 7944:1998：光学玻璃光谱透过率测试方法
GB/T 7962.12-2010：无色光学玻璃光谱内透射比试验方法
ISO 24013:2006：偏振光学元件相位延迟测量规范
GB/T 26333-2010：光学晶体双折射率测量方法
检测设备
1. Ocean Optics HR4000光谱仪：波长范围200-1100nm，光学分辨率0.035nm（FWHM）
2. Shimadzu UV-3600Plus分光光度计：配备积分球附件，支持5nm-3300nm宽谱测试
3. Agilent Cary 7000全能型分光计：双单色器设计，杂散光水平<0.00005%T
4. Labsphere LMS-7600积分球系统：150mm直径球体，支持绝对反射率测量
5. Thorlabs CCS200紧凑型光谱仪：USB3.0接口，波长校准精度±0.1nm
6. Horiba iHR550成像光谱仪：焦长550mm，配备1200g/mm全息光栅
7. Bruker VERTEX 80v真空型FTIR：支持远红外波段(10cm⁻¹-28,000cm⁻¹)测试
8. Zygo Verifire MST干涉仪：用于光学元件面形与波前畸变分析
9. Newport Auto-Align自动准直系统：角度定位精度±2arcsec
10. Gooch & Housego OL-750动态光源系统：提供连续可调单色光源输出
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
